SJ 50033.15-1994 半导体分立器件.3DK306型功率开关晶体管详细规范

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中华人民共和国电孑行业军用标准,半导体分立器件,3DK306型功率开关晶体管详细规范,SJ 50033/15-94,1范圉,1.1主题内容,本規范规定了 3DK306A.G型NPN硅功率开关晶体管的详细要求。毎种器件均按,GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级).,1.2外形尺寸,外形尺寸应按GB 7581《半导体分立器件外形尺寸》的B2 — O1C型及如下规定(见图,图1,漢,符訳,B2-O1C,min iiom max,A 8,63,12.19,蜘1.52,场S 966 1.092,ポ22. 86,d 5. 46*,F 3/5O,厶& 0 13.9,厶L52,记3.84 4.21,q 29. 90 30. 40,Ri 13. 58,& 4.82,£ 16. 89",5 40.13,5 27.17,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01 实施,SJ 50033ハ 5—94,1.3 最大额定值,型 号,鼠J,7c =25 C,(W),Vcb(),(V),ザCEO,(V),Vero,(V),k,(A),厶,(A),.,(C),フゝ,(C),3DK306A 700 400,3DK306B 800 450,3DK306C 900 500,3DK306D 75 1000 550 6 3.75 L0 175 一 55.175,3DK3H6F 1100 600,3DK30SF 1300 700,3DK30rC 1500 800,注,1)興〉25C时,按5Q0mW/C的速率线性地降额,1.4 主要电特性(7ハ=25匸),注:1) AFF1 <40各档,其设差不超过±20%通加>40各档,其误差不趙过±10%,\极限值,\,\,型号、,ん FE1 ”,匕:E f 0V,Ic = 1.5A,匕闲皿Vbe【由) ,亜厶* /t,Vce =1QV,7c =0. 5A,/=3. 0MHz,(MHz),C°b,Vcb-IOV,/-0.1MHz,ん=0,(pF),衣山ね,Vce = 25V,Zc =1. 0A,(r/w),fc =L 5A,ム=0. 3A,(V),h -1.5A,/bi = 0?3 A,I闻 — — 0. 5A,(巒),max max min max max,3DK306A.G 棕 7~15,红15.25,橙25.40,黄40.55,绿55.80,1.2 1.5 LO 2丒2 L0 6 370 2.0,2引用文件,GB 4587双极型晶体管测试方法,GB 7581半导体分立器件外形尺寸,GJB 33 半导体分立器件总规范.,GJB 128半导体分立器件试验方法,3要求,3.1详细要求,各项虞求应按GJB 33和本规范的规定,3.Z设计、结构和舛形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,-2 -,SJ 50033门 5—94,3.2-1引出线材料和涂层,引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或镶层。对引出线涂层冇选择要求时,在合同,或订货单中应予规定,3- 3标志,器件的标志应按GJB 33的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选(仅对GT和GCT级),器件的筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1的规定进行,超,过本规范表1规定极限值的器件应予.剔除,筛 选,(见GJB33的衷2),测 试,GT和GCT级,7、屮间电参数测试和力 FE1,8、功率老化见4. 3」,9、最后测试按本规范表1的A2分组:,ふハ丒“也初始值的10。%或1。加人.取较大者,メa国初始值的士20%,4-3-1功率老化条件,功率老化条件如下;,T, =162.5 ± 12.5¢,レ義』25V,及37.5W,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定进行,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行“,¢4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进彳れ,4 4.3组检验,C组检险应按GJB 33和本规范表3的规定进行.,4.5检验方法,检验方法应按本规范.相应的表和下列规定,4.5.1 脉冲测试,3 —,SJ 50033ハ 5—94,脉冲测试应按GJB 128的3. 3. 2.1的规定,4.5.2 热阻,热阻测试应按GB 4587的2.1。和下列规定。 ,a,加功率时的し=1.0A ;,b. VtE -25V(,c丒基准温度测试点应为管壳;,d.基准点温度范围为25CW’鼠エ75C,实际温度应记录;,e.安装应带散热装置;,f. R無"的最大极限值应为2. 0 CN.,4.5.3 C组寿命试验,C组寿命试验应按GJB 33和本规范的规定进行,4.5.4 恒定加速度,恒定加速度试验应按GJB 33和本规范的规定进行,表1 A组检验,检验或试验,GB 4587,LTPD 符号,极限值,単位,方法条 件min max,A1分组GJB 128 5,外观及机械检验2071,A2分组5,集电极一发射极本规范发射极一基极开路V

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